CVE-2025-9709 — Katalog CVE

csirt@kutim:~/threat-intel/cve/CVE-2025-9709

CVSS 8.6 · High EPSS 0,23%

Kerentanan On-Chip Debug and Test Interface With Improper Access Control. Skor CVSS 4.0 8.6 (High) menurut CNA.

Deskripsi (NVD)

On-Chip Debug and Test Interface With Improper Access Control and Improper Protection against Electromagnetic Fault Injection (EM-FI) in Nordic Semiconductor nRF52810 allow attacker to perform EM Fault Injection and bypass APPROTECT at runtime, requiring the least amount of modification to the hardware system possible.

Rincian

Terbit di NVD: 5 September 2025
Terakhir diubah: 17 Juni 2026
Status NVD: Deferred
CVSS 4.0: 8.6 (High), sumber CNA
CVSS:4.0/AV:P/AC:L/AT:N/PR:N/UI:N/VC:H/VI:H/VA:H/SC:H/SI:H/SA:H/E:X/CR:X/IR:X/AR:X/MAV:X/MAC:X/MAT:X/MPR:X/MUI:X/MVC:X/MVI:X/MVA:X/MSC:X/MSI:X/MSA:X/S:P/AU:X/R:X/V:X/RE:X/U:X · uraikan di kalkulator
Jenis kelemahan (CWE): CWE-1191: On-Chip Debug and Test Interface With Improper Access Control
CWE-1319: Improper Protection against Electromagnetic Fault Injection (EM-FI)
EPSS (30 hari): 0,23% peluang dieksploitasi; lebih tinggi dari 13,0% CVE lain

Produk dan versi terdampak

NVD belum mencantumkan data produk (CPE) untuk CVE ini. Produk yang terdampak biasanya disebut di deskripsi dan di advisory vendor pada daftar referensi.

Referensi dan perbaikan

Sumber: NVD · CVE.org · EPSS. Halaman ini disusun otomatis dari data tersebut; pembaruan terakhir 5 Okt 2026, 20:11 WITA. Kalau sistem di Perangkat Daerah memakai produk ini dan butuh bantuan, laporkan lewat kanal pelaporan.